Building Filters
PLASMOS SD 2300 Automatic Ellipsometer (Metrology) SD2300
- Fabricant: Plasmos
État: OccasionObjet ayant été utilisé. Objet présentant quelques marques d'usure superficielle, entièrement opérationnel et fonctionnant correctement. Il peut s'agir d'un modèle de démonstration ou d'un objet ret...
$3,390 USDCastelginest, France
2007 COMET VXP 160.15
- Fabricant: Comet
Estonie
B1510A – Analyseur de paramètres de dispositifs semi-conduc – KEYSIGHT TECHNOLOGIES (AGILENT / HP) – 200 V
- Fabricant: Agilent - Keysight
- Modèle: B1510A
Lannion, France- Revendeur de confiance

Keysight (Agilent) B1510A
- Fabricant: Agilent - Keysight
- Modèle: B1510A
Shenzhen, Chine - Revendeur de confiance

Agilent (HP) 4156C
- Fabricant: Agilent - Keysight
- Modèle: 4156C
Shenzhen, Chine - Revendeur de confiance

Keysight (Agilent) B1500A
- Fabricant: Agilent - Keysight
- Modèle: B1500A
Shenzhen, Chine UNITÉ DE CONTRÔLE TEL TOKYO ELECTRON EC1 (RO3.1)
- Fabricant: Tokyo Electron - TEL
Matériaux sourcés de: Japon | Type d'équipement/composant: UNITÉ DE SURVEILLANCE EC1 | Mpn: EC1
$640 USDRathdowney, Irlande
HGTECH Defect Detection Series Semiconductor Substrate Defect Detection Equipment (équipement de détection des défauts de substrats semi-conducteurs)
- Fabricant: Hgtech
Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette ; Standard 4", 6" (extensible 4" - 8") | Nombre de boîtes: Double plateau, 14 pièces | Méthode de chargement et de déchargement: Robot,...
Wuhan, Chine
HGTECH Wafer Defect Detection Series Équipement de détection des défauts des plaquettes de semi-conducteurs
- Fabricant: Hgtech
Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette : 4", 6" (cadre en fer avec film bleu) | Nombre de boîtes: 2 pcs | Méthode de chargement et de déchargement: Robot, scanner cartographi...
Wuhan, Chine
