RUDOLPH S3000A
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: S3000A
Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW | Processus: Ellipsométrie laser à faisceau focalisé
Corée du Sud
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PUDOLPH Meta Pluse3
- Fabricant: PUDOLPH
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Mesure de l'épaisseur du film | Expédition: EXW
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HITACHI S4700-II
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-4700
Taille des plaquettes: 12" | Processus: FESEM avec Horriba EMAX EDX | Expédition: EXW
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2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- Fabricant: Nanometrics
Taille des plaquettes: 12" | Processus: SURCOUVERTURE | Expédition: EXW
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THERMO FISHER ECO 1000
- Fabricant: Thermo Fisher Scientific
- Modèle: ECO 1000
Processus: SYSTÈME FTIR | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
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2010 Kobelco SBW-330
- Fabricant: Kobelco
- Modèle: SBW-330
Détails: Essais et métrologie des plaquettes de silicium | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: SBW-330 Essais et métrologie des plaquettes de silicium
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2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- Fabricant: Valley
- Modèle: JVX6200I
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Métrologie des rayons X (réflectivité des rayons X) | Expédition: EXW
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1997 LG SEMICON CLS-9002
- Fabricant: LG SEMICON
Processus: 3ème INSPECTION OPTIQUE | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
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JEOL JWS-7515
- Fabricant: Jeol
- Modèle: JWS-7515
Détails: Inséparation des plaquettes | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JWS-7515 Inspection des plaquettes
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2010 RUDOLPH S3000A
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: S3000A
Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW | Processus: Ellipsométrie laser à faisceau focalisé
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