D'occasion Métrologie / Inspection (Semi Conducteurs)

2000 RUDOLPH MP200

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Fabricant: RODOLPH

Taille des plaquettes: 8 | 3 taille de la plaquette: 8" | Expédition: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricant: Rudolph

Taille des plaquettes: 12" | Processus: Mesure de l'épaisseur du film

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricant: KLA_TENCOR

Processus: MESURE DE L'ÉPAISSEUR DU FILM | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: Metapulse 200

Taille des plaquettes: 8" | Processus: MESURE DE L'ÉPAISSEUR DU FILM | Expédition: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Fabricant: JORDANVALLEY

Taille des plaquettes: 12"

JEOL JWS-7500E

• Fabricant: Jeol
• Modèle: JWS-7500E

Taille des plaquettes: 8" | Processus: SYSTÈME D'INSPECTION DES PLAQUETTES | Expédition: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-4160

Taille des plaquettes: 6",8" | Processus: FE SEM | Expédition: EXW

2013 ATI OAK-1

• Fabricant: ATI

Expédition: EXW

NANOMETRICS CALPER-ULTRA

• Fabricant: Nanometrics

Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW

RUDOLPH S3000

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: S3000

Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: S3000A

Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW | Processus: Ellipsométrie laser à faisceau focalisé

2010 RUDOLPH S3000A

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: S3000A

Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW | Processus: Ellipsométrie laser à faisceau focalisé

FEI FEM2010F

• Fabricant: FEI
• Modèle: FEM2010F

Détails: Double faisceau | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: FEI FEM2010F Double faisceau

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

• Fabricant: Nanometrics
• Modèle: CALIPERMOSAIC

Taille des plaquettes: 12" | Processus: Superposition | Expédition: EXW`