D'occasion Test Et Mesure

HGTECH Defect Detection Series Semiconductor Substrate Defect Detection Equipment (équipement de détection des défauts de substrats semi-conducteurs)

• nouvelle

• Fabricant: Hgtech

Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette ; Standard 4", 6" (extensible 4" - 8") | Nombre de boîtes: Double plateau, 14 pièces | Méthode de chargement et de déchargement: Robot,...

MC100E131FN – MICROCONTROLLEUR – ON SEMICONDUCTOR – 5V ECL 4-BIT D-TYPE

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577 – TRACEUR DE COURBES – TEKTRONIX –

• d'occasion

• Fabricant: Tektronix
• Modèle: 577

Mirtec - MV-6E OMNI

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• Fabricant: Mirtec

VISCOM - AOI S3088 Ultra Chrome

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• Fabricant: Viscom

VISCOM - 3D X-Ray X7056-II

• d'occasion

• Fabricant: Viscom

MEK I-spector 350 - Inspection optique AOI occasion

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CYBEROPTICS - AOI 3D SQ3000

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• Fabricant: Cyberoptics

4145B – ANALYSEUR DE PARAMETRES DES SEMI-CONDUCTEURS – KEYSIGHT TECHNOLOGIES (AGILENT / HP) –

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• Fabricant: Agilent - Keysight
• Modèle: 4145B

370 – TRACEUR DE COURBE PROGRAMMABLE – TEKTRONIX –

• d'occasion

• Fabricant: Tektronix
• Modèle: 370

177 – DISPOSITIF D’ESSAI STANDARD – TEKTRONIX –

• d'occasion

• Fabricant: Tektronix
• Modèle: 177

B1500A – Analyseur de paramètres de dispositifs semi-conduc – KEYSIGHT TECHNOLOGIES (AGILENT / HP) – 1 KHz – 5 MHz

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• Fabricant: Agilent - Keysight
• Modèle: B1500A

B1510A – Analyseur de paramètres de dispositifs semi-conduc – KEYSIGHT TECHNOLOGIES (AGILENT / HP) – 200 V

• d'occasion

• Fabricant: Agilent - Keysight
• Modèle: B1510A