LEICA INM300 Wafer Inspection
- Fabricant: Leica
Corée du Sud2004 RUDOLPH AXI-S
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: AXI
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Macro-inspection | Expédition: EXW
Corée du Sud- Corée du Sud
- Corée du Sud
- Corée du Sud
2004 RUDOLPH AXI_S
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: AXI
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Système de macro-inspection | Expédition: EXW
Corée du SudRUDOLPH AXI935D
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: AXI 935
Taille des plaquettes: 12" | Processus: AVI | Expédition: EXW`
Corée du SudRUDOLPH AXI-S
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: AXI
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Macro-inspection | Expédition: EXW
Corée du Sud- Corée du Sud
- Corée du Sud
2003 RUDOLPH AXI_S
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: AXI
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Inspection des défauts | Expédition: EXW`
Corée du Sud- Corée du Sud
HGTECH Defect Detection Series Semiconductor Substrate Defect Detection Equipment (équipement de détection des défauts de substrats semi-conducteurs)
- Fabricant: Hgtech
Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette ; Standard 4", 6" (extensible 4" - 8") | Nombre de boîtes: Double plateau, 14 pièces | Méthode de chargement et de déchargement: Robot,...
Wuhan, ChineHGTECH Wafer Defect Detection Series Équipement de détection des défauts des plaquettes de semi-conducteurs
- Fabricant: Hgtech
Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette : 4", 6" (cadre en fer avec film bleu) | Nombre de boîtes: 2 pièces | Méthode de chargement et de déchargement: Robot, scanner cartogra...
Wuhan, Chine577 – TRACEUR DE COURBES – TEKTRONIX –
- Fabricant: Tektronix
- Modèle: 577
Lannion, France