D'occasion Test Et Mesure

2004 KLA VIPER 2430

• Fabricant: KLA-Tencor
• Modèle: Viper 2430

Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW

HGTECH Defect Detection Series Semiconductor Substrate Defect Detection Equipment (équipement de détection des défauts de substrats semi-conducteurs)

• Fabricant: Hgtech

Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette ; Standard 4", 6" (extensible 4" - 8") | Nombre de boîtes: Double plateau, 14 pièces | Méthode de chargement et de déchargement: Robot,...

HGTECH Wafer Defect Detection Series Équipement de détection des défauts des plaquettes de semi-conducteurs

• Fabricant: Hgtech

Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette : 4", 6" (cadre en fer avec film bleu) | Nombre de boîtes: 2 pcs | Méthode de chargement et de déchargement: Robot, scanner cartographi...

577 – TRACEUR DE COURBES – TEKTRONIX –

• Fabricant: Tektronix
• Modèle: 577

MC100E131FN – MICROCONTROLLEUR – ON SEMICONDUCTOR – 5V ECL 4-BIT D-TYPE

CAT24WC256KI – EEPROM CMOS – CATALYST (CSI) – 256K-BIT I2C

177 – DISPOSITIF D’ESSAI STANDARD – TEKTRONIX –

• Fabricant: Tektronix
• Modèle: 177

4145B – ANALYSEUR DE PARAMETRES DES SEMI-CONDUCTEURS – KEYSIGHT TECHNOLOGIES (AGILENT / HP) –

• Fabricant: Agilent - Keysight
• Modèle: 4145B

370 – TRACEUR DE COURBE PROGRAMMABLE – TEKTRONIX –

• Fabricant: Tektronix
• Modèle: 370

XCV300PQ240 – CIRCUIT INTEGRES PROGRAMMABLE – XILINX – VIRTEX

SP8670B – EMETTEUR – GEC PLESSEY SEMICONDUCTORS –

B1510A – Analyseur de paramètres de dispositifs semi-conduc – KEYSIGHT TECHNOLOGIES (AGILENT / HP) – 200 V

• Fabricant: Agilent - Keysight
• Modèle: B1510A

B1500A – Analyseur de paramètres de dispositifs semi-conduc – KEYSIGHT TECHNOLOGIES (AGILENT / HP) – 1 KHz – 5 MHz

• Fabricant: Agilent - Keysight
• Modèle: B1500A