D'occasion Métrologie / Inspection (Semi Conducteurs)

Capteur BALLUFF BOS 26K-PA-1LHC-S4-C

• Fabricant: Balluff

Règle de mesure FAGOR COVP-1645 avec tête de lecture TCVP 13-7118593

• Fabricant: Fagor

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricant: KLA_TENCOR

Processus: CI T1X0 REV.2 | Expédition: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricant: KLA_TENCOR

Processus: CI T1X0 | Expédition: EXW

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI FB 2100

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: FB-2100

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

METROLOGY Q230

• Fabricant: METROLOGY

Taille des plaquettes: 8 "

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Fabricant: KLA-Tencor
• Modèle: P-12

METROLOGY P2

• Fabricant: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricant: Nanometrics

Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW

AMAT SEMVision

• Fabricant: Amat
• Modèle: Semvision

Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW