Équipement semi-conducteurs » Métrologie / Inspection (semi-conducteurs)

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D'occasion Métrologie / Inspection (Semi Conducteurs)

  • 1999 KLA, AFS-3220, Mesure de

    1999 KLA, AFS-3220, Mesure de la planéité

    • Fabricant: KLA-Tencor

    Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Mesure de la planéité | Équipement: Mesure de la planéité | Description: Plaque de 300 mm, épaisseur du balayage : précision de 0,25 mm

    Suwon, Corée du Sud
  • KLA TENCOR, P-10, Profilomètre de

    KLA TENCOR, P-10, Profilomètre de surface (Windows DOS)

    • Fabricant: KLA-Tencor
    • Modèle: P-10

    Numéro de série.: 03970318 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Profilomètre de surface (Windows DOS) | Équipement: Profilomètre de surface | Description: Windows DOS

    Suwon, Corée du Sud
  • 2003 KLA, AFS-3220, Mesure de

    2003 KLA, AFS-3220, Mesure de planéité

    • Fabricant: KLA-Tencor

    Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Mesure de la planéité | Équipement: Mesure de la planéité | Description: Plaque de 300 mm, épaisseur du balayage : précision de 0,25 mm

    Suwon, Corée du Sud
  • 2005 KLA, AFS-3220, Mesure de

    2005 KLA, AFS-3220, Mesure de planéité

    • Fabricant: KLA-Tencor

    Numéro de série.: AMS101 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Mesure de la planéité | Équipement: Mesure de la planéité | Description: Plaque de 300 mm, épaisseur du balayage : précision de 0,25 mm

    Suwon, Corée du Sud
  • 2003 KLA, SP3, COMPTEUR DE

    2003 KLA, SP3, COMPTEUR DE PARTICULES

    • Fabricant: KLA-Tencor
    • Modèle: SP3

    Numéro de série.: 45120310476 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: COMPTEUR DE PARTICULES | Équipement: COMPTEUR DE PARTICULES | Description: Plaque de 450 mm

    Suwon, Corée du Sud
  • 2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

    2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

    • Fabricant: Veeco - Sloan
    • Modèle: Dektak

    Numéro de série.: 24278 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: L'échelon Alpha | Équipement: L'échelon Alpha | Description: N/A

    Suwon, Corée du Sud
  • KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler

    KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler (windows NT)

    • Fabricant: KLA-Tencor
    • Modèle: P-15

    Numéro de série.: 0704120887 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Surface Profiler (windows NT) | Équipement: Profileur de surface | Description: Windows NT

    Suwon, Corée du Sud
  • 2000 KLA 2139

    2000 KLA 2139

    • Fabricant: KLA-Tencor
    • Modèle: 2139

    Taille des plaquettes: 8" | Processus: MET | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2002 MDC SIGNATION

    2002 MDC SIGNATION

    • Fabricant: MDC

    Taille des plaquettes: 8" | Processus: MET | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2000 KLA UV-1080

    2000 KLA UV-1080

    • Fabricant: KLA-Tencor

    Taille des plaquettes: 6", 8" | Processus: MET | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • Capteur BALLUFF BOS 26K-PA-1LHC-S4-C

    Capteur BALLUFF BOS 26K-PA-1LHC-S4-C

    • Fabricant: Balluff

    $395 USD
    Saint-Chamond, France
  • Règle de mesure FAGOR COVP-1645

    Règle de mesure FAGOR COVP-1645 avec tête de lecture TCVP 13-7118593

    • Fabricant: Fagor

    $1,103 USD
    Saint-Chamond, France
  • Règle de mesure HEIDENHAIN LIDA

    Règle de mesure HEIDENHAIN LIDA 325 ML 1200

    • Fabricant: Heidenhain

    $870 USD
    Saint-Chamond, France
  • KLA_TENCOR CI T1X0

    KLA_TENCOR CI T1X0

    • Fabricant: KLA_TENCOR

    Processus: CI T1X0 REV.2 | Expédition: EXW

    Gyeonggi, Corée du Sud
  • KLA_TENCOR CI T1X0

    KLA_TENCOR CI T1X0

    • Fabricant: KLA_TENCOR

    Processus: CI T1X0 | Expédition: EXW

    Gyeonggi, Corée du Sud
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Aperçu général

La métrologie des semi-conducteurs implique la mesure et l'analyse des plaquettes et des dispositifs semi-conducteurs. Cette catégorie comprend des outils et des équipements utilisés pour garantir la précision et l'exactitude des processus de fabrication des semi-conducteurs. Ces instruments sont essentiels pour le contrôle de la qualité, aidant à détecter les défauts et à garantir que les dispositifs répondent à des normes industrielles strictes.

FAQ (FOIRE AUX QUESTIONS)

Quels facteurs dois-je prendre en compte lors de l'achat d'équipements de métrologie des semi-conducteurs?

Considérez la précision de mesure, la résolution et la compatibilité de l'équipement avec vos processus spécifiques de semi-conducteurs. Évaluez les services de support du fournisseur et la facilité d'intégration de l'équipement dans vos systèmes existants.

Comment puis-je assurer une expédition sécurisée des équipements de métrologie des semi-conducteurs?

Utilisez un service d'expédition spécialisé ayant de l'expérience dans la manipulation d'équipements sensibles et de haute précision. Assurez-vous que l'équipement soit bien emballé avec un amortissement adéquat et des instructions de manipulation.

Quel est le calendrier de maintenance pour les équipements de métrologie des semi-conducteurs?

Une calibration et une inspection régulières sont essentielles. Suivez les directives du fabricant pour la maintenance préventive, y compris le nettoyage des composants optiques et la vérification des mises à jour logicielles. Tenez un journal de toutes les activités de maintenance.