D'occasion Microscopes

2004 OLYMPUS, CKX41SF, Microscope inversé à contraste de phase

• Fabricant: Olympus
• Modèle: CKX41SF

Numéro de série.: 4L17148 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Description: 220-240V, 0,85/0,45A, 50/60Hz

2006 PSIA INC, XE-120, Microscope à sonde à balayage

• Fabricant: PSIA INC

Numéro de série.: BC77600019 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à sonde à balayage | Équipement: Microscope à sonde à balayage | Description: Plage de balayage 90x90㎛, 230V, 50/60Hz, 5A

HUVITS, HRM-300A, Microscope de profilage 3D à lumière ascendante

• Fabricant: HUVITS

Numéro de série.: BHRTRP13K0007 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Description: 240x157x202.5mm

2010 Park Systems, XE-150, AFM (microscope à force atomique)

• Fabricant: Park Systems

Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: AFM (Microscope à force atomique) | Équipement: AFM (Microscope à force atomique)

2006 HITACHI HD2300A

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: HD 2300

Taille des plaquettes: N/A | Processus: Microscope électronique à transmission à balayage (STEM) | Expédition: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: NB5000

Taille des plaquettes: N/A | Processus: FIB Sem | Expédition: EXW

N-TEMPÊTE

AX R MP avec NSPARC

Série de coloration par dispersion

• Fabricant: Nikon Europe

Série CFI Achromat pour contraste de phase

• Fabricant: Nikon Europe

Série CFI BE2 Plan Achromat

• Fabricant: Nikon Europe

SMZ745 | SMZ745T

Série ECLIPSE Ci

Série CFI Achromat pour contraste de phase apodisé

• Fabricant: Nikon

STEDYCON