Métrologie / Inspection (Semi Conducteurs) D'occasion situés en Allemagne

Hitachi S3000H SEM Microscope à balayage électronique La

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-3000H

Numéro d'objet: AA00072011 | Nom de l'objet: Hitachi S3000H SEM Microscope à balayage électronique La | Expédition: 4 à 6 semaines

Hitachi S4000 Microscope (SEM) Scanning Electron M

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-4000

Numéro d'objet: AA00072106 | Nom de l'objet: Hitachi S4000 Microscope (SEM) Scanning Electron M | Expédition: 4 à 6 semaines

Heidenhain jauge LS 406 ML 470 mm 262 181 50

• Fabricant: Heidenhain

Contenu: 1 pièce | Poids: 5000 g

Veeco Dektak 3 Surface Profilmeter

• Fabricant: Veeco - Sloan
• Modèle: Dektak

Numéro d'objet: AA00072255 | Nom de l'objet: Veeco Dektak 3 Surface Profilmeter | Expédition: 4 à 6 semaines

2001 Leica INS 3000

• Fabricant: Leica
• Modèle: INS 3000