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1996 Nanometrics Nanospec8000

• Fabricant: Nanometrics
• Modèle: Nanospec

Processus: MET | Expédition: EXW

2011 HMI eScan 400

• Fabricant: HMI
• Modèle: Escan 400

Taille des plaquettes: 12" | Processus: Inspection des défauts de la poutre en E | Expédition: EXW

2005 RUDOLPH MP-300

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: MP 300

Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW

1997 KLA AIT

• Fabricant: KLA-Tencor
• Modèle: AIT

Taille des plaquettes: 8" | Processus: MET | Expédition: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Fabricant: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: AXI

Taille des plaquettes: 12" | Processus: Macro-inspection | Expédition: EXW

NIKON AMI-3500

• Fabricant: Nikon
• Modèle: AMI-3500

Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: MP 300

Expédition: EXW

2001 RUDOLPH MP-300

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: MP 300

Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: MP 300

Taille des plaquettes: 12" | Processus: Mesure de l'épaisseur du film | Expédition: EXW

2004 RUDOLPH AXI_S

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: AXI

Taille des plaquettes: 12" | Processus: Système de macro-inspection | Expédition: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: MP 300

Taille des plaquettes: 8" | Processus: Mesure de l'épaisseur du film | Expédition: EXW

RUDOLPH AXI935D

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: AXI 935

Taille des plaquettes: 12" | Processus: AVI | Expédition: EXW`

RUDOLPH AXI-S

• Fabricant: Rudolph
• Modèle: AXI

Taille des plaquettes: 12" | Processus: Macro-inspection | Expédition: EXW

2008 Shibuya, EH-173, Manipulateur de tests

• Fabricant: Shibuya

Numéro de série.: CAD2891 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Gestionnaire de test | Équipement: Gestionnaire de test | Description: 9.0 KVA