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Métrologie / Inspection (Semi Conducteurs) D'occasion situés en Corée du Sud

  • 2010 HITACHI LS9000

    2010 HITACHI LS9000

    • d'occasion

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: LS9000

    Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • d'occasion

    • Fabricant: Rudolph

    Taille des plaquettes: 8 " | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 1990 KLA SFS7200

    1990 KLA SFS7200

    • d'occasion

    • Fabricant: KLA-Tencor
    • Modèle: SFS7200

    Taille des plaquettes: 8 " | Processus: Métrologie | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • d'occasion

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: IS3200SE

    Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • HSEB AXIOTRON 300

    HSEB AXIOTRON 300

    • d'occasion

    • Fabricant: HSEB

    Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • NGR NGR2150

    NGR NGR2150

    • d'occasion

    • Fabricant: NGR

    Taille des plaquettes: 12" | Détails: CD-SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: NGR2150 CD SEM

    Corée du Sud
  • 2010 Kobelco SBW-330

    2010 Kobelco SBW-330

    • d'occasion

    • Fabricant: Kobelco
    • Modèle: SBW-330

    Détails: Essais et métrologie des plaquettes de silicium | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: SBW-330 Essais et métrologie des plaquettes de silicium

    Corée du Sud
  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • d'occasion

    • Fabricant: Valley
    • Modèle: JVX6200I

    Taille des plaquettes: 12" | Processus: Métrologie des rayons X (réflectivité des rayons X) | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 1997 LG SEMICON CLS-9002

    1997 LG SEMICON CLS-9002

    • d'occasion

    • Fabricant: LG SEMICON

    Processus: 3ème INSPECTION OPTIQUE | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • d'occasion

    • Fabricant: Nanometrics

    Taille des plaquettes: 12" | Processus: Inspection des masques et des plaquettes | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • d'occasion

    • Fabricant: Nanometrics

    Taille des plaquettes: 12" | Processus: Inspection des masques et des plaquettes | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • d'occasion

    • Fabricant: Jeol
    • Modèle: JWS-7515

    Détails: Inséparation des plaquettes | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JWS-7515 Inspection des plaquettes

    Corée du Sud
  • JORDANVALLEY JVX6200

    JORDANVALLEY JVX6200

    • d'occasion

    • Fabricant: JORDANVALLEY

    Taille des plaquettes: 12"

    Corée du Sud
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • d'occasion

    • Fabricant: Rudolph
    • Modèle: S3000A

    Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW | Processus: Ellipsométrie laser à faisceau focalisé

    Corée du Sud
  • 2010 RUDOLPH S3000S

    2010 RUDOLPH S3000S

    • d'occasion

    • Fabricant: Rudolph
    • Modèle: S3000S

    Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW

    Corée du Sud
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