Équipement semi-conducteurs » Métrologie / Inspection (semi-conducteurs) » Hitachi » S-3000

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Se Termine Jan 20e, 16:00 CST
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D'occasion Hitachi S-3000 Métrologie / Inspection (Semi Conducteurs)

  • Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron

    Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-3000H

    Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: SEM (Scanning Electron Microscope) | Équipement: SEM (Microscope électronique à balayage)

    Suwon, Corée du Sud