D'occasion metal detection

HGTECH Wafer Defect Detection Series Équipement de détection des défauts des plaquettes de semi-conducteurs

• Fabricant: Hgtech

Article: Paramètres principaux | Paramètres généraux: Taille de la plaquette : 4", 6" (cadre en fer avec film bleu) | Nombre de boîtes: 2 pièces | Méthode de chargement et de déchargement: Robot, scanner cartogra...