Microscopes D'occasion situés en Corée du Sud

2011 LEICA, Reicher Polyvar SC 300901, Microscope

• Fabricant: Leica

Numéro de série.: 419007 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope | Équipement: Microscope | Description: 5x, 10x, 20x, 40x, 100x Objectif

2008 View ENG, Benchmark250, Microscope de mesure 3D

• Fabricant: View Eng

Numéro de série.: B25008111255 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de mesure 3D | Équipement: Microscope de mesure 3D | Description: XYZ Travel 300x150x200mm

2011 Nanoscope, NS-3000, Microscope confocal 3D

• Fabricant: Nanoscope

Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope confocal 3D | Équipement: Microscope confocal 3D | Description: Grossissement 100x, zoom optique 1~5x

2006 HITACHI HD2300A

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: HD 2300

Taille des plaquettes: N/A | Processus: Microscope électronique à transmission à balayage (STEM) | Expédition: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: NB5000

Taille des plaquettes: N/A | Processus: FIB Sem | Expédition: EXW

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

JEOL JSM-6700F

• Fabricant: Jeol
• Modèle: JSM

Détails: FE SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-6700F FE SEM

1996 HITACHI S-4160

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-4160

Taille des plaquettes: 6",8" | Processus: FE SEM | Expédition: EXW

1999 JEOL JSM-5600

• Fabricant: Jeol
• Modèle: JSM

Détails: CD-SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-5600 CD SEM