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 - 2008 View ENG, Benchmark250, Microscope de mesure 3D- Fabricant: View Eng
 - Numéro de série.: B25008111255 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de mesure 3D | Équipement: Microscope de mesure 3D | Description: XYZ Travel 300x150x200mm Suwon, Corée du Sud
 - 2011 Nanoscope, NS-3000, Microscope confocal 3D- Fabricant: Nanoscope
 - Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope confocal 3D | Équipement: Microscope confocal 3D | Description: Grossissement 100x, zoom optique 1~5x Suwon, Corée du Sud
 - 2011 Nanoscope, NS-3000, Microscope confocal 3D- Fabricant: Nanoscope
 - Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope confocal 3D | Équipement: Microscope confocal 3D | Description: Grossissement 100x, zoom optique 1~5x Suwon, Corée du Sud
 - Sometech, SV-35, Système de vidéo-microscope (Videoscope)- Fabricant: Sometech
 - Numéro de série.: SV35-07K-024 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Système de vidéo-microscope (Videoscope) | Équipement: Système de vidéo-microscope (Videoscope) | Description: Faible grossissement 40x, 100x... Suwon, Corée du Sud
 - 2004 OLYMPUS, CKX41SF, Microscope inversé à contraste de phase- Fabricant: Olympus
- Modèle: CKX41SF
 - Numéro de série.: 4L17148 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Description: 220-240V, 0,85/0,45A, 50/60Hz Suwon, Corée du Sud
 - 2016 COXEM, CX-200, SEM (Scanning Electron Microscope)- Fabricant: COXEM
 - Numéro de série.: CXS-7TMH-116024 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope électronique à balayage | Équipement: Microscope électronique à balayage Suwon, Corée du Sud
 - HUVITS, HRM-300A, Microscope de profilage 3D à lumière ascendante- Fabricant: HUVITS
 - Numéro de série.: BHRTRP13K0007 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Description: 240x157x202.5mm Suwon, Corée du Sud
 - 2006 PSIA INC, XE-120, Microscope à sonde à balayage- Fabricant: PSIA INC
 - Numéro de série.: BC77600019 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à sonde à balayage | Équipement: Microscope à sonde à balayage | Description: Plage de balayage 90x90㎛, 230V, 50/60Hz, 5A Suwon, Corée du Sud
 - 2010 Park Systems, XE-150, AFM (microscope à force atomique)- Fabricant: Park Systems
 - Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: AFM (Microscope à force atomique) | Équipement: AFM (Microscope à force atomique) Suwon, Corée du Sud
