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2013 NIKON, ECLIPSE LV150NL, Microscope électronique
- Fabricant: Nikon
Numéro de série.: 252738 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope électronique | Équipement: Microscope électronique
Suwon, Corée du Sud
Sometech, SV-35, Système de vidéo-microscope (Videoscope)
- Fabricant: Sometech
Numéro de série.: SV35-07K-024 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Système de vidéo-microscope (Videoscope) | Équipement: Système de vidéo-microscope (Videoscope) | Description: Faible grossissement 40x, 100x...
Suwon, Corée du Sud
2013 OLYMPUS, CX31RTSF, Microscope biologique
- Fabricant: Olympus
- Modèle: CX31RTSF
Numéro de série.: 3L41371 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope biologique | Équipement: Microscope biologique | Description: Objectif 4x, 10x 40x
Suwon, Corée du Sud
2016 COXEM, CX-200, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabricant: COXEM
Numéro de série.: CXS-7TMH-116024 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope électronique à balayage | Équipement: Microscope électronique à balayage
Suwon, Corée du Sud
2007 OLYMPUS, IX71S1F, Microscope à fluorescence inversé
- Fabricant: Olympus
Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à fluorescence inversé | Équipement: Microscope à fluorescence inversé | Description: N/A
Suwon, Corée du Sud
2008 View ENG, Benchmark250, Microscope de mesure 3D
- Fabricant: View Eng
Numéro de série.: B25008111255 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de mesure 3D | Équipement: Microscope de mesure 3D | Description: XYZ Travel 300x150x200mm
Suwon, Corée du Sud
2006 PSIA INC, XE-120, Microscope à sonde à balayage
- Fabricant: PSIA INC
Numéro de série.: BC77600019 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à sonde à balayage | Équipement: Microscope à sonde à balayage | Description: Plage de balayage 90x90㎛, 230V, 50/60Hz, 5A
Suwon, Corée du Sud
HUVITS, HRM-300A, Microscope de profilage 3D à lumière ascendante
- Fabricant: HUVITS
Numéro de série.: BHRTRP13K0007 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Description: 240x157x202.5mm
Suwon, Corée du Sud
2004 OLYMPUS, CKX41SF, Microscope inversé à contraste de phase
- Fabricant: Olympus
- Modèle: CKX41SF
Numéro de série.: 4L17148 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Description: 220-240V, 0.85/0.45A, 50/60Hz
Suwon, Corée du Sud
2011 NIKON, VMR-3020, Microscope de mesure
- Fabricant: Nikon
- Modèle: Nexiv VMR-3020
Numéro de série.: 1303969 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de mesure | Équipement: Microscope de mesure | Description: Course 300x200x150mm, Lecture minimale 0.1㎛
Suwon, Corée du Sud
2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscope d'inspection
- Fabricant: Nikon
- Modèle: Optiphot 300
Numéro de série.: 625331 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope d'inspection | Équipement: Microscope d'inspection | Description: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz
Suwon, Corée du Sud
2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscope d'inspection
- Fabricant: Nikon
- Modèle: Optiphot 300
Numéro de série.: 625331 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope d'inspection | Équipement: Microscope d'inspection | Description: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz
Suwon, Corée du Sud
Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-3000H
Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: MEB (Microscope électronique à balayage) | Équipement: SEM (Microscope électronique à balayage)
Suwon, Corée du Sud
JEOL JSM-6700F
- Fabricant: Jeol
- Modèle: JSM
Détails: FE SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-6700F FE SEM
Corée du Sud
1999 JEOL JSM-5600
- Fabricant: Jeol
- Modèle: JSM
Détails: CD-SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-5600 CD SEM
Corée du Sud