2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Fabricant: Nanometrics
- Modèle: CALIPERMOSAIC
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Superposition | Expédition: EXW`
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2012 RUDOLPH S3000A
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: S3000A
Taille des plaquettes: 8" | Processus: Ellipsométrie laser à faisceau focalisé | Chambre: EXW
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KLA_TENCOR P-12
- Fabricant: KLA_TENCOR
Taille des plaquettes: 6",8" | Processus: PROFILER DE DISQUE | Expédition: EXW
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RUDOLPH FE-4D
- Fabricant: Rudolph
Taille des plaquettes: 8" | Processus: Ellipsomètre à focale | Expédition: EXW
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2008 LASERTEC BGM 300
- Fabricant: Lasertec
Taille des plaquettes: 8" | Processus: SYSTÈME D'ANALYSE ET DE VISUALISATION DE LA SURFACE DES GAUFRES | Expédition: EXW
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2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- Fabricant: J.A.WOOLLAM
Taille des plaquettes: 8" | Processus: ELLIPSOMETER | Expédition: EXW
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2010 RUDOLPH WS3840
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: WS3840
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Métrologie des bosses en 3D | Expédition: EXW`
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JEOL JWS-7515
- Fabricant: Jeol
- Modèle: JWS-7515
Détails: Inspection des plaquettes | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JWS-7515 Inspection des plaquettes
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2006 HITACHI IS2700E
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: IS2700SE
Taille des plaquettes: 12" | Détails: Inspection du faisceau d'électrons | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: HITACHI IS2700SE Inspection du faisceau E
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2003 HITACHI RS 4000
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: RS 4000
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Examen des défauts Sem | Expédition: EXW
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2003 HITACHI RS4000
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: RS 4000
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Examen des défauts Sem | Expédition: EXW
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