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MEB FEI Quanta 200 MK2 Type FP Scanning Electron Microscope GSED-LF/ESEMEDX SDD
- Fabricant: FEI
État: OccasionObjet ayant été utilisé. Objet présentant quelques marques d'usure superficielle, entièrement opérationnel et fonctionnant correctement. Il peut s'agir d'un modèle de démonstration ou d'un objet ret...
$80,956 USDCastelginest, FranceZEISS EVO LS 15 Scanning Electron Microscope
- Fabricant: Zeiss
État: OccasionObjet ayant été utilisé. Objet présentant quelques marques d'usure superficielle, entièrement opérationnel et fonctionnant correctement. Il peut s'agir d'un modèle de démonstration ou d'un objet ret...
$45,757 USDCastelginest, France- Revendeur de confiance
Jeol JSM T200
- Fabricant: Jeol
- Modèle: JSM
Numéro d'objet: B00013303 | Nom de l'objet: Jeol JSM T200 | X: 40 mm | Y: 40 mm | Échange d’échantillon: Environ 2,5 minutes. | Dispositifs pour panne de courant, panne d’eau et détérioration du vide: intégré. | ...
Burladingen, Allemagne 
2016 COXEM, CX-200, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabricant: COXEM
Numéro de série.: CXS-7TMH-116024 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope électronique à balayage | Équipement: Microscope électronique à balayage
Suwon, Corée du Sud
Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-3000H
Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: MEB (Microscope électronique à balayage) | Équipement: SEM (Microscope électronique à balayage)
Suwon, Corée du Sud
