microscope D'occasion situés en Gyeonggi, Corée du Sud

2011 LEICA, Reicher Polyvar SC 300901, Microscope

• Fabricant: Leica

Numéro de série.: 419007 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope | Équipement: Microscope | Description: 5x, 10x, 20x, 40x, 100x Objectif

2008 View ENG, Benchmark250, Microscope de mesure 3D

• Fabricant: View Eng

Numéro de série.: B25008111255 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de mesure 3D | Équipement: Microscope de mesure 3D | Description: XYZ Travel 300x150x200mm

2004 OLYMPUS, CKX41SF, Microscope inversé à contraste de phase

• Fabricant: Olympus
• Modèle: CKX41SF

Numéro de série.: 4L17148 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Équipement: Microscope à contraste de phase inversé | Description: 220-240V, 0,85/0,45A, 50/60Hz

2011 Nanoscope, NS-3000, Microscope confocal 3D

• Fabricant: Nanoscope

Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope confocal 3D | Équipement: Microscope confocal 3D | Description: Grossissement 100x, zoom optique 1~5x

HUVITS, HRM-300A, Microscope de profilage 3D à lumière ascendante

• Fabricant: HUVITS

Numéro de série.: BHRTRP13K0007 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Description: 240x157x202.5mm

2010 Park Systems, XE-150, AFM (microscope à force atomique)

• Fabricant: Park Systems

Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: AFM (Microscope à force atomique) | Équipement: AFM (Microscope à force atomique)

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscope d'inspection

• Fabricant: Nikon
• Modèle: Optiphot 300

Numéro de série.: 625331 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope d'inspection | Équipement: Microscope d'inspection | Description: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-3000H

Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: SEM (Microscope électronique à balayage) | Équipement: SEM (Microscope électronique à balayage)

2011 NIKON, VMR-3020, Microscope de mesure

• Fabricant: Nikon
• Modèle: Nexiv VMR-3020

Numéro de série.: 1303969 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de mesure | Équipement: Microscope de mesure | Description: Course 300x200x150mm, Lecture minimale 0.1㎛

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscope d'inspection

• Fabricant: Nikon
• Modèle: Optiphot 300

Numéro de série.: 625331 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope d'inspection | Équipement: Microscope d'inspection | Description: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz