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2011 NIKON, VMR-3020, Microscope de mesure
- Fabricant: Nikon
- Modèle: Nexiv VMR-3020
Numéro de série.: 1303969 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de mesure | Équipement: Microscope de mesure | Description: Course 300x200x150mm, Lecture minimale 0.1㎛
Suwon, Corée du Sud
2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscope d'inspection
- Fabricant: Nikon
- Modèle: Optiphot 300
Numéro de série.: 625331 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope d'inspection | Équipement: Microscope d'inspection | Description: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz
Suwon, Corée du Sud
JEOL JSM-6700F
- Fabricant: Jeol
- Modèle: JSM
Détails: FE SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-6700F FE SEM
Corée du Sud
Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-3000H
Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: SEM (Scanning Electron Microscope) | Équipement: SEM (Microscope électronique à balayage)
Suwon, Corée du Sud
1999 JEOL JSM-5600
- Fabricant: Jeol
- Modèle: JSM
Détails: CD-SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-5600 CD SEM
Corée du Sud
Bruker, Contour SP, Microscopie optique 3D sur pied
- Fabricant: Bruker
Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Profilomètres optiques 3D sur pied | Équipement: Profilomètres optiques 3D sur pied
Suwon, Corée du Sud
1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMÈTRE
- Fabricant: Plasmos
Numéro de série.: 5094.06.94 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: ELLIPSOMETER | Équipement: ELLIPSOMETER | Description: Plaque de 300 mm | Moniteur vidéo: 9M200A | Électrophysique: Système autofocus pour micr...
Suwon, Corée du Sud
CARLZEISS AXIOTON
- Fabricant: CARLZEISS
Processus: MICROSCOPE D'INSPECTION | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud
CARLZEISS AXIOTON
- Fabricant: CARLZEISS
Processus: MICROSCOPE D'INSPECTION | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricant: Leica
Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud
2001 HITACHI S4700-I
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-4700
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Microscope électronique à balayage | Expédition: EXW
Corée du Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricant: Leica
Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricant: Leica
- Modèle: KENSINGTON 300901
Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricant: Leica
- Modèle: KENSINGTON 300901
Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricant: Leica
Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud