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Inspection Des Défauts D'occasion situés en Corée du Sud

  • Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron

    Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-3000H

    Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: SEM (Microscope électronique à balayage) | Équipement: SEM (Microscope électronique à balayage)

    Suwon, Corée du Sud
  • 2009 HITACHI RS4000T

    2009 HITACHI RS4000T

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: RS-4000

    Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW

    Séoul, Corée du Sud
  • 2011 HITACHI NB-5000

    2011 HITACHI NB-5000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: NB5000

    Taille des plaquettes: N/A | Processus: FIB Sem | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • HITACHI S5500

    HITACHI S5500

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-5500

    Taille des plaquettes: N/A | Processus: FE Sem | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2006 HITACHI HD2300A

    2006 HITACHI HD2300A

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: HD-2300A

    Taille des plaquettes: N/A | Processus: Microscope électronique à transmission à balayage (STEM) | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-5000

    Gyeonggi, Corée du Sud
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-5000

    Gyeonggi, Corée du Sud
  • HITACHI FB 2100

    HITACHI FB 2100

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: FB-2100

    Gyeonggi, Corée du Sud
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-5000

    Gyeonggi, Corée du Sud
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-5000

    Gyeonggi, Corée du Sud
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: S-5000

    Gyeonggi, Corée du Sud
  • 2013 HITACHI RS6000

    2013 HITACHI RS6000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: RS-6000

    Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: RS-4000

    Taille des plaquettes: 12" | Processus: EXAMEN DES DÉFAUTS SEM | Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2010 HITACHI LS9000

    2010 HITACHI LS9000

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: LS9000

    Expédition: EXW

    Corée du Sud
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • Fabricant: Hitachi
    • Modèle: IS-3200SE

    Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW

    Corée du Sud
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Aperçu général

L'inspection des défauts en métrologie des semi‑conducteurs regroupe les systèmes et méthodes destinés à détecter, classifier et quantifier les défauts sur wafers, masques et composants. Des outils optiques, à faisceau électronique ou basés sur la diffusion mesurent la taille, la densité et la position des défauts pour améliorer le rendement et l'analyse des causes. Les équipements doivent répondre aux exigences de salle blanche, d'anti‑vibration et d'ESD et intègrent souvent imagerie avancée et analyse de données.

FAQ (FOIRE AUX QUESTIONS)

Que vérifier lors de l'achat d'un système d'inspection de défauts d'occasion ?

Contrôlez l'état des détecteurs et des optiques, les spécifications de résolution et sensibilité, les formats de wafers compatibles, les versions logicielles/firmware, l'historique de maintenance et d'étalonnage, et la disponibilité des pièces et du service.

Comment expédier l'appareil pour le protéger ?

Utilisez un transport climatisé et amorti, des caisses sur mesure, une protection ESD et des enregistreurs de choc. Coordonnez le démontage/remontage avec le fournisseur ou un technicien certifié et assurez l'envoi.

Quelles routines de maintenance et d'étalonnage sont nécessaires ?

Effectuez des contrôles quotidiens de l'optique et de la propreté, surveillez les pompes/vide si applicable et sauvegardez régulièrement les logiciels. Planifiez un étalonnage annuel par l'OEM ou un laboratoire qualifié et remplacez les consommables selon le fabricant.