équipement De Soutien (Semi Conducteurs) D'occasion situés en Corée du Sud

2005 AXCELIS ES3

• Fabricant: Axcelis
• Modèle: ES3

Taille des plaquettes: 12"

BACKEND P&P2512

• Fabricant: BACKEND

2008 Espec SCO-122B-L

• Fabricant: Espec
• Modèle: SCO-122B-L

Taille de sortie: 1400*2200*2000 mm | Taille d'admission: 800*780*700 mm | Plage de température: 50~500 ℃ | Voltage: 200V, 3PH, 50/60HZ | Situé: Entrepôt Etechsolution B-2

2003 CHARM ENG CVO-1200

• Fabricant: CHARM ENG

Taille de sortie: 1900*1760*1370 mm | Voltage: 208V/21KVA/50-60HZ | Situé: Entrepôt Etechsolution B-4

MPD MSP-2300XPI

• Fabricant: MPD

Taille des plaquettes: 12" | Détails: Dépôt de plaquettes | Transport: EXW

1992 DISCO DFG-82IF

• Fabricant: Disco
• Modèle: DFG-82IF8

Processus: Meuleuse de surface rotative

HP 4145B

• Fabricant: HP
• Modèle: 4145B

Processus: PARAMÈTRE DU SEMI-CONDUCTEUR | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW

TEL 303I

• Fabricant: Tokyo Electron - TEL
• Modèle: 303I

Taille des plaquettes: 12" | Expédition: EXW

TEL INDY PLS

• Fabricant: Tokyo Electron - TEL

Taille des plaquettes: 12 | Expédition: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Fabricant: Nicolet
• Modèle: MAGNA 560 FT-IR

Expédition: EXW

SEMITOOL WST305M

• Fabricant: Semitool
• Modèle: WST305M

Processus: Cu PLTNG | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricant: Leica

Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricant: Leica

Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricant: Leica
• Modèle: KENSINGTON 300901

Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricant: Leica
• Modèle: KENSINGTON 300901

Processus: Microscope d'inspection des plaquettes de silicium | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW