Métrologie / Inspection (Semi Conducteurs) D'occasion situés en Corée du Sud

2003 KLA, AFS-3220, Mesure de planéité

• Fabricant: KLA-Tencor

Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Mesure de la planéité | Équipement: Mesure de la planéité | Description: Plaque de 300 mm, épaisseur du balayage : précision de 0,25 mm

2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

• Fabricant: KLA-Tencor

Numéro de série.: 48130711333 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Wafersight3 | Équipement: Wafersight3 | Description: Plaque de 450 mm

2000 KLA 2139

• Fabricant: KLA-Tencor
• Modèle: 2139

Taille des plaquettes: 8" | Processus: MET | Expédition: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Fabricant: LASER&PHYSICS

Processus: Machine à tester les masques | Taille des plaquettes: N/A | Expédition: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Fabricant: MDC

Taille des plaquettes: 8" | Processus: MET | Expédition: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabricant: KLA-Tencor

Taille des plaquettes: 6", 8" | Processus: MET | Expédition: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: NB5000

Taille des plaquettes: N/A | Processus: FIB Sem | Expédition: EXW

HITACHI S5500

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5500

Taille des plaquettes: N/A | Processus: FE Sem | Expédition: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: HD-2300A

Taille des plaquettes: N/A | Processus: Microscope électronique à transmission à balayage (STEM) | Expédition: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricant: KLA_TENCOR

Processus: CI T1X0 REV.2 | Expédition: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricant: KLA_TENCOR

Processus: CI T1X0 | Expédition: EXW

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI FB 2100

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: FB-2100

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000