2016 COXEM, CX-200, SEM (Scanning Electron Microscope)
d'occasion
- Fabricant: COXEM
Numéro de série.: CXS-7TMH-116024 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope électronique à balayage | Équipement: Microscope électronique à balayage
Suwon, Corée du Sud2010 Park Systems, XE-150, AFM (microscope à force atomique)
d'occasion
- Fabricant: Park Systems
Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: AFM (Microscope à force atomique) | Équipement: AFM (Microscope à force atomique)
Suwon, Corée du Sud2006 PSIA INC, XE-120, Microscope à sonde à balayage
d'occasion
- Fabricant: PSIA INC
Numéro de série.: BC77600019 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope à sonde à balayage | Équipement: Microscope à sonde à balayage | Description: Plage de balayage 90x90㎛, 230V, 50/60Hz, 5A
Suwon, Corée du SudHITACHI S 5000
d'occasion
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-5000
Gyeonggi, Corée du SudHITACHI S 5000
d'occasion
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-5000
Gyeonggi, Corée du SudHITACHI S 5000
d'occasion
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-5000
Gyeonggi, Corée du SudHITACHI S 5000
d'occasion
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-5000
Gyeonggi, Corée du SudHITACHI S 5000
d'occasion
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: S-5000
Gyeonggi, Corée du Sud