Microscopes D'occasion situés en Corée du Sud

HUVITS, HRM-300A, Microscope de profilage 3D à lumière ascendante

• Fabricant: HUVITS

Numéro de série.: BHRTRP13K0007 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Équipement: Microscope de profilage 3D à balayage vertical | Description: 240x157x202.5mm

2010 Park Systems, XE-150, AFM (microscope à force atomique)

• Fabricant: Park Systems

Numéro de série.: N/A | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: AFM (Microscope à force atomique) | Équipement: peso

Height

• Fabricant: Nikon

Numéro de série.: 252738 | Quantité: 1 | Détail de l'équipement: Microscope électronique | Équipement: Microscope électronique

2006 HITACHI HD2300A

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: HD 2300

Taille des plaquettes: N/A | Processus: Microscope électronique à transmission à balayage (STEM) | Expédition: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: NB5000

Taille des plaquettes: N/A | Processus: FIB Sem | Expédition: EXW

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-5000

JEOL JSM-6700F

• Fabricant: Jeol
• Modèle: JSM

Détails: FE SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-6700F FE SEM

1996 HITACHI S-4160

• Fabricant: Hitachi
• Modèle: S-4160

Taille des plaquettes: 6",8" | Processus: FE SEM | Expédition: EXW

1999 JEOL JSM-5600

• Fabricant: Jeol
• Modèle: JSM

Détails: CD-SEM | Transport: L'emballage et l'expédition sont à la charge de l'acheteur | Commentaires: JEOL JSM-5600 CD SEM