
2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- Fabricant: Valley
- Modèle: JVX6200I
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Métrologie des rayons X (réflectivité des rayons X) | Expédition: EXW
Corée du Sud
Corée du Sud
RUDOLPH Meta Pulse
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: Metapulse
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Mesure de l'épaisseur du film | Expédition: EXW
Corée du Sud
2012 RUDOLPH S3000A
- Fabricant: Rudolph
- Modèle: S3000A
Taille des plaquettes: 8" | Processus: Ellipsométrie laser à faisceau focalisé | Chambre: EXW
Corée du Sud
KLA_TENCOR P-12
- Fabricant: KLA_TENCOR
Taille des plaquettes: 6",8" | Processus: PROFILER DE DISQUE | Expédition: EXW
Corée du Sud
RUDOLPH Meta Pulse 300
- Fabricant: Rudolph
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Mesure de l'épaisseur du film | Expédition: EXW
Corée du Sud
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RUDOLPH FE-4D
- Fabricant: Rudolph
Taille des plaquettes: 8" | Processus: Ellipsomètre à focale | Expédition: EXW
Corée du Sud
2008 LASERTEC BGM 300
- Fabricant: Lasertec
Taille des plaquettes: 8" | Processus: SYSTÈME D'ANALYSE ET DE VISUALISATION DE LA SURFACE DES GAUFRES | Expédition: EXW
Corée du Sud
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1997 LG SEMICON CLS-9002
- Fabricant: LG SEMICON
Processus: 3ème INSPECTION OPTIQUE | Taille des plaquettes: * | Expédition: EXW
Corée du Sud
2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- Fabricant: J.A.WOOLLAM
Taille des plaquettes: 8" | Processus: ELLIPSOMETER | Expédition: EXW
Corée du Sud
2003 HITACHI RS 4000
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: RS-4000
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Examen des défauts Sem | Expédition: EXW
Corée du Sud
2003 HITACHI RS4000
- Fabricant: Hitachi
- Modèle: RS-4000
Taille des plaquettes: 12" | Processus: Examen des défauts Sem | Expédition: EXW
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